Caracterizacion de centros profundos en semiconductores por la tecnica cc-dlos

  1. VILANOVA SOMOZA, JESUS

Universität der Verteidigung: Universidad de Valladolid

Jahr der Verteidigung: 1989

Gericht:
  1. Pedro Cartujo Estebanez Präsident/in
  2. Emilio Lora-Tamayo D'Ocón Sekretär/in
  3. Luis A. Bailón Vega Vocal
  4. Martín Jaráiz Vocal

Art: Dissertation

Teseo: 22804 DIALNET