Electrical characterization of deep levels existing in Mg-Si- and Mg-P-Si-implanted p+n InP junctions
- Quintanilla, L.
- Dueñas, S.
- Castán, E.
- Pinacho, R.
- Peláez, R.
- Barbolla, J.
- Martín, J.M.
- González-Diaz, G.
ISSN: 0268-1242
Année de publication: 1998
Volumen: 13
Número: 4
Pages: 389-393
Type: Article