Experimental observation of conductance transients in Al/SiNx:H/Si metal-insulator-semiconductor structures

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Zeitschrift:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Datum der Publikation: 1997

Ausgabe: 71

Nummer: 6

Seiten: 826-828

Art: Artikel

DOI: 10.1063/1.119658 GOOGLE SCHOLAR