Simulación didáctica por ordenador del plan simple de futuro de la inspección mediante las normas militares estándar

  1. Cabero Morán, María Teresa
  2. García Martín, Martín
  3. Mecoleta Finó, Santiago
  4. Prieto García, María Mercedes
Llibre:
XXXI Congreso Nacional de Estadística e Investigación Operativa ; V Jornadas de Estadística Pública: Murcia, 10-13 de febrero de 2009 : Libro de Actas

Editorial: Universidad de Murcia. Departamento de Estadística e Investigación Operativa

ISBN: 978-84-691-8159-1

Any de publicació: 2009

Congrés: Congreso Nacional de Estadística e Investigación Operativa (31. 2009. Murcia)

Tipus: Aportació congrés

Resum

Para la inspeccion mediante planes de muestreo por atributos se utilizan las normas militares estandar, preparadas para series continuas de lotes del mismo producto. Estan basadas en un tama~no de lote, un nivel de calidad aceptable (AQL), un nivel de inspeccion general (I, II o III) y un rigor de inspeccion (normal, rigurosa o reducida) que se va ajustando en funcion de la calidad de los lotes que se examinan con el historial del vendedor, lo que vara el tama~no de muestra. Una serie de criterios cambian a lo largo del proceso el modo de inspeccion. Este trabajo presenta una hoja de calculo, SIMIL, que proporciona, dados los datos anteriores, los planes de muestreo simple segun el nivel y rigor a seguir. Posteriormente simula un proceso mediante los planes hallados, en el cual, didacticamente mediante diferentes colores e iconos, segun las condiciones, elige muestras, contabiliza las unidades defectuosas y, de acuerdo con la informacion obtenida, planea el futuro de la inspeccion.