Monte Carlo Analysis of the Behavior and Spatial Origin of Electronic Noise in GaAs MESFET's
- González, T.
- Pardo, D.
- Varani, L.
- Reggiani, L.
ISSN: 1557-9646, 0018-9383
Año de publicación: 1995
Volumen: 42
Número: 5
Páginas: 991-998
Tipo: Artículo
Revista:
IEEE Transactions on Electron Devices