Monte Carlo analysis of electronic noise in semiconductor materials and devices

  1. Reggiani, L.
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  7. Shiktorov, P.
  8. Gružinskis, V.
Revista:
Microelectronics Journal

ISSN: 0026-2692

Año de publicación: 1997

Volumen: 28

Número: 2

Páginas: 183-198

Tipo: Revisión

DOI: 10.1016/S0026-2692(96)00061-4 GOOGLE SCHOLAR

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