Bohm trajectories for the modeling of tunneling devices

  1. Suñé, J.
  2. Oriols, X.
  3. García-García, J.J.
  4. Martín, F.
  5. González, T.
  6. Mateos, J.
  7. Pardo, D.
Zeitschrift:
Microelectronic Engineering

ISSN: 0167-9317

Datum der Publikation: 1997

Ausgabe: 36

Nummer: 1-4

Seiten: 125-128

Art: Artikel

DOI: 10.1016/S0167-9317(97)00031-2 GOOGLE SCHOLAR