Generalized transfer-fields and Langevin forces for hot-carrier fluctuations in semiconductor submicron devices
- Starikov, E.
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- Gružinskis, V.
- Reggiani, L.
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- Vaissière, J.C.
- Nougier, J.P.
- González, T.
- Mateos, J.
- Pardo, D.
ISSN: 0921-4526
Datum der Publikation: 1999
Ausgabe: 272
Nummer: 1-4
Seiten: 260-262
Art: Artikel