Langevin forces and generalized transfer fields for noise modeling in deep submicron devices

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Zeitschrift:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Datum der Publikation: 2000

Ausgabe: 47

Nummer: 10

Seiten: 1992-1998

Art: Artikel

DOI: 10.1109/16.870587 GOOGLE SCHOLAR

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