Microscopic analysis of generation-recombination noise in semiconductors under dc and time-varying electric fields

  1. Pérez, S.
  2. González, T.
  3. Delage, S.L.
  4. Obregon, J.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Año de publicación: 2000

Volumen: 88

Número: 2

Páginas: 800-807

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.373739 GOOGLE SCHOLAR

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