Measurement of Stark parameters of HeII P-alpha, P-beta and P-gamma spectral lines

  1. Mar, S.
  2. Rodríguez, F.
  3. Peláez, R.J.
  4. Aparicio, J.A.
  5. González, V.R.
  6. Del Val, J.A.
Konferenzberichte:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

Datum der Publikation: 2004

Ausgabe: 5622

Nummer: PART 2

Seiten: 986-991

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1117/12.590856 GOOGLE SCHOLAR