Monte Carlo characterization of fabricated partially-depleted SOI MOSFETs: High-frequency performance
- Rengel, R.
- Martín, M.J.
- Pailloncy, G.
- Dambrine, G.
- Danneville, F.
Konferenzberichte:
2005 Spanish Conference on Electron Devices, Proceedings
ISBN: 9780780388109
Datum der Publikation: 2005
Ausgabe: 2005
Seiten: 373-376
Art: Konferenz-Beitrag
