On the high-frequency noise figures of merit and microscopic channel noise sources in fabricated 90 nm PD SOI MOSFETs

  1. Rengel, R.
  2. Martín, M.J.
  3. Pailloncy, G.
  4. Dambrine, G.
  5. Danneville, F.
Actas:
AIP Conference Proceedings

ISSN: 0094-243X,  1551-7616

ISBN: 9780735402676

Año de publicación: 2005

Volumen: 780

Páginas: 745-748

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1063/1.2036857 GOOGLE SCHOLAR