3D Monte Carlo study of thermal noise in DG-MOSFET

  1. Dollfus, P.
  2. Bournel, A.
  3. Velázquez, J.E.
Konferenzberichte:
AIP Conference Proceedings

ISSN: 0094-243X,  1551-7616

ISBN: 9780735402676

Datum der Publikation: 2005

Ausgabe: 780

Seiten: 749-752

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1063/1.2036858 GOOGLE SCHOLAR