A Monte Carlo investigation of the RF performance of partially-depleted SOI MOSFETs

  1. Rengel, R.
  2. Martín, M.J.
  3. Dambrine, G.
  4. Danneville, F.
Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Año de publicación: 2006

Volumen: 21

Número: 3

Páginas: 273-278

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0268-1242/21/3/010 GOOGLE SCHOLAR

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