A microscopic interpretation of the RF noise performance of fabricated FDSOI MOSFETs

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Zeitschrift:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Datum der Publikation: 2006

Ausgabe: 53

Nummer: 3

Seiten: 523-532

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TED.2005.863541 GOOGLE SCHOLAR