Quasiballistic transport in nanometer Si metal-oxide-semiconductor field-effect transistors: Experimental and Monte Carlo analysis
- Łusakowski, J.
- Martínez, M.J.M.
- Rengel, R.
- González, T.
- Tauk, R.
- Meziani, Y.M.
- Knap, W.
- Boeuf, F.
- Skotnicki, T.
Revista:
Journal of Applied Physics
ISSN: 0021-8979
Año de publicación: 2007
Volumen: 101
Número: 11
Tipo: Artículo