Transport boundary condition for semiconductor structures

  1. Volovichev, I.N.
  2. Velázquez-Perez, J.E.
  3. Gurevich, Yu.G.
Zeitschrift:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Datum der Publikation: 2008

Ausgabe: 52

Nummer: 11

Seiten: 1703-1709

Art: Artikel

DOI: 10.1016/J.SSE.2008.04.037 GOOGLE SCHOLAR