Analisis optico de dispositivos para integracion optoelectronica

Abstract

El principal objetivo de este trabajo es la creacion de un conjunto de herramientas que permitan el analisis sistematico de problemas opticos en dispositivos para integracion optoelectronica. El metodo de analisis propuesto se basa en el calculo del campo propagado en el dispositivo y el posterior procesado de los resultados obtenidos para llevar a cabo un analisis modal. Las aportaciones principales del trabajo estan centradas en los metodos para realizar los calculos, que simplifican deforma importante la tarea frente a los tradicionalmente empleados. Estas aportaciones son, basicamente, dos: un nuevo metodo de propagacion de haces que permite reducir el volumen de calculo y almacenamiento, y el empleo del metodo de prony para llevar a cabo el analisis modal a partir de los resultados del bpm. El metodo de prony permite obtener de forma inmediata datos acerca de la estructura modal del dispositivo y de la potencia y fase con la que se acopla cada modo en cada paso concreto, siendo mucho mas completo, rapido, eficiente y de aplicacion sencilla que tecnicas anteriores. Su aplicacion es especialmente interesante en estructuras con perdidas, tal es el caso de un fotodetector integrado en una estructura de guiaonda, a cuyo estudio se dedican los ultimos capitulos.