Knowledge based diagnosis: dealing with fault modes and temporal constraints

  1. Acosta, G.
  2. Alonso, C.
  3. Acebes, L.
  4. Sanchez, A.
  5. De Prada, C.
Konferenzberichte:
IECON Proceedings (Industrial Electronics Conference)

Datum der Publikation: 1994

Ausgabe: 2

Seiten: 1419-1424

Art: Konferenz-Beitrag