Physically based modeling of dislocation loops in ion implantation processing in silicon
- Castrillo, P.
- Martin-Bragado, I.
- Pinacho, R.
- Jaraiz, M.
- Rubio, J.E.
- Mok, K.R.C.
- Miguel-Herrero, F.J.
- Barbolla, J.
ISSN: 0921-5107
Datum der Publikation: 2005
Ausgabe: 124-125
Nummer: SUPPL.
Seiten: 404-408
Art: Konferenz-Beitrag