Atomistic analysis of annealing behavior of amorphous regions
- López, P.
- Pelaz, L.
- Marques, L.A.
- Santos, I.
- Aboy, M.
- Barbolla, J.
Actas:
2005 Spanish Conference on Electron Devices, Proceedings
ISBN: 9780780388109
Año de publicación: 2005
Volumen: 2005
Páginas: 427-430
Tipo: Aportación congreso