Atomistic modeling of impurity ion implantation in ultra-thin-body Si devices
- Pelaz, L.
- Duffy, R.
- Aboy, M.
- Marques, L.
- Lopez, P.
- Santos, I.
- Pawlak, B.J.
- Van Dal, M.J.H.
- Duriez, B.
- Merelle, T.
- Doornbos, G.
- Collaert, N.
- Witters, L.
- Rooyackers, R.
- Vandervorst, W.
- Jurczak, M.
- Kaiser, M.
- Weemaes, R.G.R.
- Van Berkum, J.G.M.
- Breimer, P.
- Lander, R.J.P.
Actes de conférence:
Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM
ISSN: 0163-1918
ISBN: 9781424423781
Année de publication: 2008
Type: Communication dans un congrès