Atomistic modeling of impurity ion implantation in ultra-thin-body Si devices

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Actes de conférence:
Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM

ISSN: 0163-1918

ISBN: 9781424423781

Année de publication: 2008

Type: Communication dans un congrès

DOI: 10.1109/IEDM.2008.4796744 GOOGLE SCHOLAR

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