Light beam induced current mapping of mc-Si solar cells: Influence of grain boundaries and intragrain defects

  1. Moralejo, B.
  2. Hortelano, V.
  3. González, M.A.
  4. Jiménez, J.
  5. Martínez, O.
  6. Parra, V.
  7. Avella, M.
Konferenzberichte:
Materials Research Society Symposium Proceedings

ISSN: 0272-9172

ISBN: 9781605112459

Datum der Publikation: 2010

Ausgabe: 1268

Seiten: 31-36

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1557/PROC-1268-EE01-08 GOOGLE SCHOLAR