Caracterización mediante difracción de Rayos X de estructuras semiconductoras III-V para aplicaciones en comunicaciones ópticas
- Sanz-Hervás, A.
- Paz, D. I.
- Alonso, A.
- Abril Domingo, Evaristo
- Benito, G. de
- Llorente, C.
- López, M. T.
- Aguilar, M.
- Betancor García, Manuel J. (coord.)
- Pérez-Jiménez, Rafael (coord.)
- Jiménez Yguacel, Eugenio (coord.)
Editorial: Universidad de Las Palmas de Gran Canaria
Año de publicación: 1994
Volumen: 2
Páginas: 888-892
Congreso: Unión Científica Internacional de Radio. Comité Español. Simposium Nacional (9. 1994. Las Palmas de Gran Canaria)
Tipo: Aportación congreso