Standards for the Characterization of Endurance in Resistive Switching Devices

  1. Lanza, M.
  2. Waser, R.
  3. Ielmini, D.
  4. Yang, J.J.
  5. Goux, L.
  6. Suñe, J.
  7. Kenyon, A.J.
  8. Mehonic, A.
  9. Spiga, S.
  10. Rana, V.
  11. Wiefels, S.
  12. Menzel, S.
  13. Valov, I.
  14. Villena, M.A.
  15. Miranda, E.
  16. Jing, X.
  17. Campabadal, F.
  18. Gonzalez, M.B.
  19. Aguirre, F.
  20. Palumbo, F.
  21. Zhu, K.
  22. Roldan, J.B.
  23. Puglisi, F.M.
  24. Larcher, L.
  25. Hou, T.-H.
  26. Prodromakis, T.
  27. Yang, Y.
  28. Huang, P.
  29. Wan, T.
  30. Chai, Y.
  31. Pey, K.L.
  32. Raghavan, N.
  33. Dueñas, S.
  34. Wang, T.
  35. Xia, Q.
  36. Pazos, S.
  37. Alle Autoren anzeigen +
Zeitschrift:
ACS Nano

ISSN: 1936-086X,  1936-0851

Datum der Publikation: 2021

Ausgabe: 15

Nummer: 11

Seiten: 17214-17231

Art: Rezension

DOI: 10.1021/ACSNANO.1C06980 GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor

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