Catastrophic optical damage in 808 nm broad area laser diodes: a study of the dark line defect propagation

  1. Dadgostar, S.
  2. Pura, J.L.
  3. Mediavilla, I.
  4. Souto, J.
  5. Jimenez, J.
Revista:
Optics Express

ISSN: 1094-4087

Año de publicación: 2022

Volumen: 30

Número: 23

Páginas: 42624-42638

Tipo: Artículo

DOI: 10.1364/OE.463313 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor