Catastrophic optical damage in 808 nm broad area laser diodes: a study of the dark line defect propagation
- Dadgostar, S.
- Pura, J.L.
- Mediavilla, I.
- Souto, J.
- Jimenez, J.
ISSN: 1094-4087
Año de publicación: 2022
Volumen: 30
Número: 23
Páginas: 42624-42638
Tipo: Artículo