A Deep Learning-Monte Carlo Combined Prediction of Side-Effect Impact Ionization in Highly Doped GaN Diodes
- Garcia-Sanchez, S.
- Rengel, R.
- Perez, S.
- Gonzalez, T.
- Mateos, J.
ISSN: 1557-9646, 0018-9383
Año de publicación: 2023
Volumen: 70
Número: 6
Páginas: 2981-2987
Tipo: Artículo