Guest Editorial: Machine learning applied to quality and security in software systems
- Gao, H.
- Hussain, W.
- Durán Barroso, R.J.
- Arshad, J.
- Yin, Y.
ISSN: 1751-8814, 1751-8806
Año de publicación: 2023
Volumen: 17
Número: 4
Páginas: 345-347
Tipo: Editorial