Publicaciones en las que colabora con Juan Barbolla Sánchez (7)
2006
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Disordered structure and density of gap states in high-permittivity thin solid films
DEFECTS IN HIGH-K GATE DIELECTRIC STACKS: NANO-ELECTRONIC SEMICONDUCTOR DEVICES
1998
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Conductance transients study of slow traps in Al/SiNx : H/Si and Al/SiNx : H/InP metal-insulator-semiconductor structures
ELECTRICALLY BASED MICROSTRUCTURAL CHARACTERIZATION II
1996
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Determination of three-dimensional deep level defect distribution by capacitance-voltage transient technique (CVTT)
DEFECT RECOGNITION AND IMAGE PROCESSING IN SEMICONDUCTORS 1995
1994
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A STUDY OF CHANNELING AND INDUCED DAMAGE IN BORON-IMPLANTED SILICON
DEFECT RECOGNITION AND IMAGE PROCESSING IN SEMICONDUCTORS AND DEVICES
1991
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Variación con la temperatura de la posición interfacial del nivel de Fermi en una estructura MOS: estudio por simulación
Diseño de circuitos integrados: actas del VI Congreso. Santander, 11/15 de noviembre de 1991
1987
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Aplicación de la DLOS a semiconductores compensados
XXI Reunión bienal de la Real Sociedad española de Física: programa, Salamanca 4 al 10 de octubre, 1987
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Caracterización del centro EL2 del GaAs por espectroscopia óptica de la admitancia
XXI Reunión bienal de la Real Sociedad española de Física: programa, Salamanca 4 al 10 de octubre, 1987