Grupo de Caracterización de Materiales y Dispositivos Electrónicos ( Electronic Materials and Devices Characterization Group, GCME)

Foto de Grupo de Caracterización de Materiales y Dispositivos Electrónicos ( Electronic Materials and Devices Characterization Group, GCME)

Foto de Uppsala University

Uppsala University

Upsala, Suecia

Publicaciones en colaboración con investigadores/as de Uppsala University (1)

2007

Study of atomic layer deposited gadolinium oxide thin films on silicon
Materials Research Society Symposium Proceedings