Publicaciones en las que colabora con Martin Jaraiz Maldonado (2)
1987
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Optical admittance spectroscopy: A new method for deep level characterization
Journal of Applied Physics, Vol. 61, Núm. 7, pp. 2541-2545
1986
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Electron thermal emission rates of nickel centers in silicon
Solid State Electronics, Vol. 29, Núm. 9, pp. 883-884