Publicaciones en las que colabora con Jose Vicente Anton (3)

1987

  1. Caracterización del centro EL2 del GaAs por espectroscopia óptica de la admitancia

    XXI Reunión bienal de la Real Sociedad española de Física: programa, Salamanca 4 al 10 de octubre, 1987

  2. Optical admittance spectroscopy: A new method for deep level characterization

    Journal of Applied Physics, Vol. 61, Núm. 7, pp. 2541-2545

1986

  1. Electron thermal emission rates of nickel centers in silicon

    Solid State Electronics, Vol. 29, Núm. 9, pp. 883-884