Grups
Investigadors/es
Resultats
Raúl
Rengel Estévez
Philippe
Dollfus
Estàs en
col·laboracions
Philippe Dollfus
Publicacions en què col·labora amb Philippe Dollfus (1)
2001
An ionised-impurity scattering model for 3D Monte Carlo device simulation with discrete impurity distribution
VLSI Design
Contacta
Avís legal
translate
ca
arrow_drop_down
translate
ca
arrow_drop_down
es
eu
gl
en
fr
de