Effect of interlayer trapping and detrapping on the determination of interface state densities on high-k dielectric stacks

1. Castán, H.
2. Dueñas, S.
3. García, H.
4. Gómez, A.
5. Bailón, L.
6. Toledano-Luque, M.
7. Del Prado, A.
8. Mártil, I.
9. González-Díaz, G.