Conductance-transient three-dimensional profiling of disordered induced gap states on metal-insulator-semiconductor structures
- Castan, H.
- Duenas, S.
- Barbolla, J.
- Martil, I.
- González-Díaz, G.
ISSN: 0272-9172
Datum der Publikation: 2002
Ausgabe: 699
Seiten: 231-236
Art: Konferenz-Beitrag