Analysis of voltage noise in forward-biased silicon bipolar homojunctions: Low- and high-injection regimes

  1. Martín, M.J.
  2. Pardo, D.
  3. Velázquez, J.E.
Zeitschrift:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Datum der Publikation: 1997

Ausgabe: 71

Nummer: 23

Seiten: 3382-3384

Art: Artikel

DOI: 10.1063/1.120554 GOOGLE SCHOLAR

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