Analysis of voltage noise in forward-biased silicon bipolar homojunctions: Low- and high-injection regimes

  1. Martín, M.J.
  2. Pardo, D.
  3. Velázquez, J.E.
Aldizkaria:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Argitalpen urtea: 1997

Alea: 71

Zenbakia: 23

Orrialdeak: 3382-3384

Mota: Artikulua

DOI: 10.1063/1.120554 GOOGLE SCHOLAR

Garapen Iraunkorreko Helburuak