Stark width measurement of several OII lines
- del Val, J.A.
- Aparicio, J.A.
- Mar, S.
Konferenzberichte:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
ISSN: 0277-786X
Datum der Publikation: 1999
Ausgabe: 3572
Seiten: 542-546
Art: Artikel