Monte Carlo analysis of the noise behavior in Si bipolar junction transistors and SiGe heterojunction bipolar transistors at radio frequencies
- Martín-Martínez, M.J.
- Pérez, S.
- Pardo, D.
- González, T.
ISSN: 0021-8979
Año de publicación: 2001
Volumen: 90
Número: 3
Páginas: 1582-1588
Tipo: Artículo