Comparison of sub-micron Si:SiGe heterojunction nFETs to Si nMOSFET in present-day technologies

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Zeitschrift:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Datum der Publikation: 2004

Ausgabe: 48

Nummer: 8

Seiten: 1401-1406

Art: Artikel

DOI: 10.1016/J.SSE.2004.01.017 GOOGLE SCHOLAR

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