Thermal noise in nanometric DG-MOSFET

  1. Dollfus, P.
  2. Bournel, A.
  3. Galdin-Retailleau, S.
  4. Velázquez, J.E.
Zeitschrift:
Journal of Computational Electronics

ISSN: 1569-8025,  1572-8137

Datum der Publikation: 2006

Ausgabe: 5

Nummer: 4

Seiten: 479-482

Art: Artikel

DOI: 10.1007/S10825-006-0034-5 GOOGLE SCHOLAR