Thermal noise in nanometric DG-MOSFET

  1. Dollfus, P.
  2. Bournel, A.
  3. Galdin-Retailleau, S.
  4. Velázquez, J.E.
Revista:
Journal of Computational Electronics

ISSN: 1569-8025,  1572-8137

Ano de publicación: 2006

Volume: 5

Número: 4

Páxinas: 479-482

Tipo: Artigo

DOI: 10.1007/S10825-006-0034-5 GOOGLE SCHOLAR