Onset of quasi-ballistic transport and mobility degradation in ultra scaled MOSFETs: A Monte Carlo study
- Martín, M.J.
- Rengel, R.
- Pascual, E.
- ŁUsakowski, J.
- Knap, W.
- González, T.
ISSN: 1862-6351
Año de publicación: 2008
Volumen: 5
Número: 1
Páginas: 123-126
Tipo: Aportación congreso