Logic Gates Based on Synthetic Antiferromagnetic Bilayer Skyrmions
- Fattouhi, M.
- Mak, K.Y.
- Zhou, Y.
- Zhang, X.
- Liu, X.
- El Hafidi, M.
Revista:
Physical Review Applied
ISSN: 2331-7019
Ano de publicación: 2021
Volume: 16
Número: 1
Tipo: Artigo