Analysis of the white emission from ion beam synthesised layers by in-depth resolved scanning photoluminescence microscopy

  1. González-Varona, O.
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  8. González, M.A.
  9. Jiménez, J.
Revista:
Materials Science and Engineering B: Solid-State Materials for Advanced Technology

ISSN: 0921-5107

Año de publicación: 2002

Volumen: 91-92

Páginas: 51-54

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1016/S0921-5107(01)00967-9 GOOGLE SCHOLAR