An in situ transmission electron microscope study of the anomalous annealing of spatially isolated disordered zones in silicon

  1. Edmondson, P.D.
  2. Birtcher, R.C.
  3. Vishnyakov, V.M.
  4. Lopez, P.
  5. Pelaz, L.
  6. Marques, L.A.
  7. Donnelly, S.E.
Actas:
Journal of Physics: Conference Series

ISSN: 1742-6596,  1742-6588

Año de publicación: 2006

Volumen: 26

Número: 1

Páginas: 284-287

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1088/1742-6596/26/1/068 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor