Electrical characteristics of metal-insulator-semiconductor structures with atomic layer deposited Al2 O3, HfO2, and nanolaminates on different silicon substrates
- Campabadal, F.
- Rafí, J.M.
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- Beldarrain, O.
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- Castán, H.
- Gómez, A.
- García, H.
- Dueas, S.
ISSN: 2166-2754, 2166-2746
Año de publicación: 2011
Volumen: 29
Número: 1
Tipo: Aportación congreso