Electrical and optical characterization of extended defects in silicon mono-cast material
- Moralejo, B.
- Tejero, A.
- Hortelano, V.
- Martínez, O.
- Jiménez, J.
- Parra, V.
ISSN: 1862-6351, 1610-1642
Datum der Publikation: 2012
Ausgabe: 9
Nummer: 10-11
Seiten: 2158-2163
Art: Artikel