Electrical and optical characterization of extended defects in silicon mono-cast material

  1. Moralejo, B.
  2. Tejero, A.
  3. Hortelano, V.
  4. Martínez, O.
  5. Jiménez, J.
  6. Parra, V.
Revista:
Physica Status Solidi (C) Current Topics in Solid State Physics

ISSN: 1862-6351,  1610-1642

Ano de publicación: 2012

Volume: 9

Número: 10-11

Páxinas: 2158-2163

Tipo: Artigo

DOI: 10.1002/PSSC.201200248 GOOGLE SCHOLAR

Obxectivos de Desenvolvemento Sustentable